半导体器件静电积累测试

信息概要

• 半导体器件静电积累测试是评估半导体组件在静电环境下的耐受性和可靠性的关键检测项目，旨在模拟实际使用中可能遇到的静电放电事件。
• 该检测对于防止静电放电导致的器件失效、提高产品良率和寿命至关重要，有助于客户优化设计并符合国际标准如JEDEC和AEC-Q100。
• 通过系统测试，可以识别器件的ESD脆弱点，为制造、运输和应用环节提供可靠性保障，降低市场风险。

检测项目

• 人体模型静电放电测试
• 机器模型静电放电测试
• 充电器件模型静电放电测试
• 传输线脉冲测试
• 非常快速传输线脉冲测试
• 静电放电灵敏度分类
• 漏电流测试
• 击穿电压测试
• 绝缘电阻测试
• 电容测试
• 电感测试
• 电阻测试
• 阈值电压测试
• 导通电阻测试
• 关断漏电流测试
• 栅极电荷测试
• 反向恢复时间测试
• 正向电压降测试
• 热阻测试
• 电磁兼容性测试
• 浪涌测试
• 脉冲噪声测试
• 静电衰减测试
• 表面电阻测试
• 体积电阻测试
• 介电强度测试
• 极化指数测试
• 损耗角正切测试
• 品质因数测试
• 谐振频率测试

检测范围

• 二极管
• 双极晶体管
• MOSFET
• IGBT
• 晶闸管
• 集成电路
• 微处理器
• 存储器芯片
• 模拟IC
• 数字IC
• 混合信号IC
• 功率半导体
• 光电器件
• 传感器
• 射频器件
• 微波器件
• 半导体激光器
• LED
• 光电晶体管
• 霍尔效应传感器
• 压电器件
• 磁阻器件
• 热敏电阻
• 变容二极管
• 齐纳二极管
• 肖特基二极管
• 隧道二极管
• 快恢复二极管
• 太阳能电池
• 电荷耦合器件

检测方法

• 人体模型测试：模拟人体静电放电对器件的影响，评估敏感度。
• 机器模型测试：模拟生产设备引起的静电放电事件。
• 充电器件模型测试：检测器件自身充电后接触放电的耐受性。
• 传输线脉冲测试：使用短脉冲评估ESD鲁棒性和失效阈值。
• 非常快速传输线脉冲测试：针对高速器件进行快速ESD特性分析。
• 静电放电枪测试：通过ESD枪进行直接空气或接触放电模拟。
• 间接放电测试：利用耦合板进行非接触式静电放电评估。
• 空气放电测试：在空气介质中执行静电放电，测试器件抗扰度。
• 接触放电测试：直接接触器件引脚施加放电脉冲。
• 电容耦合测试：通过电容耦合方式评估ESD对电路的影响。
• 电感耦合测试：模拟电感耦合引起的瞬态干扰效应。
• 辐射抗扰度测试：评估器件对辐射场静电放电的耐受能力。
• 传导抗扰度测试：检测电源或信号线传导ESD的防护性能。
• 静电衰减测试：测量静电电荷在器件表面的衰减时间常数。
• 表面电阻测试：使用高阻计测定器件表面电阻值。
• 体积电阻测试：评估材料内部电阻，判断绝缘性能。
• 介电常数测试：测量绝缘材料的介电特性，用于ESD分析。
• 损耗因子测试：确定介电材料的能量损耗参数。
• 击穿测试：施加递增高压直至绝缘击穿，记录临界电压。
• 漏电测试：在额定电压下测量泄漏电流，评估绝缘完整性。

检测仪器

• ESD模拟器
• 示波器
• 高压电源
• 脉冲发生器
• 传输线脉冲系统
• 静电计
• 高阻计
• 电容表
• LCR表
• 频谱分析仪
• 网络分析仪
• 温度试验箱
• 湿度试验箱
• 万用表
• 电流探头