高温存储后时序测试

信息概要

• 高温存储后时序测试是针对电子元器件（如集成电路）在高温环境下长期存储后时序性能的专项检测，用于评估产品在极端条件下的可靠性和稳定性。
• 该测试的重要性在于预防产品因高温应力导致的时序参数漂移或失效，确保其在汽车电子、航空航天等高可靠性领域的长期安全运行。
• 通过模拟高温存储后的工作状态，检测可帮助厂商优化设计、降低市场退货率，并满足国际标准如JEDEC JESD22-A103的要求。

检测项目

• 建立时间
• 保持时间
• 时钟到输出延迟
• 数据到输出延迟
• 最小脉冲宽度
• 最大频率
• 上升时间
• 下降时间
• 传播延迟
• 时序容限
• 时钟偏斜
• 数据建立保持窗口
• 输出使能时间
• 输出禁用时间
• 复位时间
• 设置时间
• 保持时间余量
• 时钟周期
• 占空比
• 时序抖动
• 信号完整性
• 电源电压灵敏度
• 温度依赖性时序
• 负载电容影响
• 输入阈值电压
• 输出高电平电压
• 输出低电平电压
• 输入电流
• 输出电流
• 漏电流
• 开关时间
• 恢复时间
• 噪声免疫性
• 信号延迟匹配

检测范围

• 微处理器
• 存储器
• ASIC
• FPGA
• GPU
• CPU
• DRAM
• Flash存储器
• SRAM
• 模拟集成电路
• 数字信号处理器
• 电源管理IC
• 射频集成电路
• 传感器IC
• 微控制器
• 逻辑门电路
• 放大器IC
• 转换器IC
• 接口IC
• 时钟发生器
• 汽车电子IC
• 工业控制IC
• 消费电子IC
• 通信IC
• 医疗电子IC
• 航空航天IC
• 嵌入式系统IC
• 可编程逻辑器件
• 混合信号IC
• 系统级芯片
• 光电IC
• 功率IC

检测方法

• 高温存储测试：将产品置于高温环境中存储指定时间后，测量时序参数变化。
• 时序分析：使用示波器或逻辑分析仪捕获信号时序关系。
• JEDEC JESD22-A103：标准高温存储寿命测试方法。
• 自动测试设备（ATE）方法：通过自动化系统进行高速时序测量。
• 环境应力筛选：结合温度和电压应力评估时序稳定性。
• 信号完整性测试：分析信号波形以确定时序偏差。
• 边界扫描测试：利用JTAG接口检测内部时序路径。
• 眼图分析：评估时序抖动和噪声影响。
• 时域反射计：测量传输延迟和阻抗匹配。
• 频率响应分析：检查器件在不同频率下的时序性能。
• 电源噪声注入测试：模拟电源波动对时序的影响。
• 温度循环测试：在温度循环后验证时序参数。
• 负载调整测试：改变负载条件测量时序变化。
• 输入信号斜率测试：评估输入边沿速率对时序的效应。
• 输出负载测试：连接不同容性负载检测延迟。
• 时钟抖动测试：量化时钟信号的时序不确定性。
• 数据速率扫描：在不同数据速率下测试时序容限。
• 故障注入测试：人为引入故障观察时序响应。
• 可靠性加速测试：使用高应力条件预测长期时序行为。
• 统计分析：对多次测量数据进行统计处理以确保准确性。
• 仿真验证：结合SPICE模型模拟高温后时序特性。
• 比较测试：与标准器件对比评估时序差异。

检测仪器

• 数字存储示波器
• 逻辑分析仪
• 自动测试设备（ATE）
• 时间间隔分析仪
• 信号发生器
• 高温箱
• 温度循环 chamber
• 电源供应器
• 电子负载
• 阻抗分析仪
• 网络分析仪
• 边界扫描测试仪
• 数据采集系统
• 频谱分析仪
• 误码率测试仪
• 探头站
• 热流计