耐 CAF 基材检测
承诺:我们的检测流程严格遵循国际标准和规范,确保结果的准确性和可靠性。我们的实验室设施精密完备,配备了最新的仪器设备和领先的分析测试方法。无论是样品采集、样品处理还是数据分析,我们都严格把控每个环节,以确保客户获得真实可信的检测结果。
信息概要
- 耐CAF基材检测是评估印刷电路板(PCB)基材抵抗导电阳极丝(CAF)形成能力的专项测试,主要针对高密度互连(HDI)基板材料。
- 该检测通过模拟高温高湿环境加速老化,评估绝缘材料在电场作用下的离子迁移耐受性,对保障5G设备、航空航天电子系统和汽车电子的长期可靠性至关重要。
- 检测涵盖基材的电气性能、机械强度、热稳定性及化学兼容性等核心指标,可有效预防因CAF导致的电路短路失效风险。
检测项目
- 离子迁移电阻测试
- 湿热老化后绝缘电阻
- 表面/体积电阻率
- 介质耐电压强度
- 玻璃化转变温度(Tg)
- 热分解温度(Td)
- 热膨胀系数(CTE)
- 吸水率测试
- 剥离强度保持率
- 介电常数(Dk)
- 介质损耗因子(Df)
- 耐电弧径迹性
- 高温高湿偏压测试
- 热机械分析(TMA)
- 差示扫描量热(DSC)
- 动态力学分析(DMA)
- 铜箔附着力
- 耐化学溶剂性
- CAF形成时间测试
- 电迁移失效分析
- 层间结合力
- 热冲击循环测试
- 高温存储试验
- 湿热循环试验
- 盐雾腐蚀测试
- 阻燃等级(UL94)
- Z轴膨胀率
- 尺寸稳定性
- 高频介电特性
- 导电阳极丝生长观测
- 微观结构SEM分析
- 离子色谱分析
- 红外光谱(FTIR)分析
- 热重分析(TGA)
检测范围
- FR-4环氧树脂基材
- 高Tg环氧基材
- 聚酰亚胺(PI)基材
- 聚四氟乙烯(PTFE)基材
- 陶瓷填充基材
- 碳氢化合物基材
- BT树脂基材
- 氰酸酯树脂基材
- 芳纶纤维增强基材
- 无卤素环保基材
- 高频高速基材
- 金属基覆铜板
- 铝基板
- 铜基板
- 陶瓷基板
- 柔性电路基材
- 半固化片(PP)
- 积层法用基材
- 低损耗基材
- 高导热基材
- IC封装基板
- LED用基材
- 汽车电子基材
- 航空航天用基材
- 医疗设备基材
- 服务器用基材
- 5G通信基材
- 埋容埋阻基材
- 纳米填充复合基材
- 液晶聚合物(LCP)基材
- 石墨烯增强基材
- 磁性基材
检测方法
- IPC-TM-650 2.6.25:标准CAF测试方法
- 温度湿度偏压(THB)测试:85℃/85%RH条件下施加直流偏压
- 高压加速测试(HATS):施加100V以上电压加速失效
- 扫描电子显微镜(SEM)观测:微观结构分析
- 能量色散X射线光谱(EDS):元素成分分析
- 绝缘电阻测试:依据IEC 62631-3-1标准
- 介电性能测试:ASTM D150方法
- 热分析:DSC/TGA/DMA综合热性能评估
- 湿热循环测试:JESD22-A100标准
- 高温高湿存储:IEC 60068-2-78
- 热机械分析:ASTM E831标准
- 耐化学性测试:IPC-TM-650 2.3.2
- 离子污染测试:IPC-TM-650 2.3.25
- 铜镜试验:评估腐蚀性
- 剥离强度测试:IPC-TM-650 2.4.8
- 吸水率测定:IPC-TM-650 2.6.2.1
- 热应力测试:288℃焊锡漂浮试验
- 阻抗测试:TDR时域反射法
- 高压绝缘测试:IEC 60243标准
- 电化学迁移测试:IPC-650 2.6.14.1
检测仪器
- 环境试验箱
- 高阻计
- 耐电压测试仪
- 网络分析仪
- 扫描电子显微镜
- 热机械分析仪
- 差示扫描量热仪
- 动态力学分析仪
- 热重分析仪
- 离子色谱仪
- 红外光谱仪
- 恒温恒湿箱
- 热冲击试验箱
- 盐雾试验箱
- 剥离强度测试机
- 金相显微镜
- X射线能谱仪
- 介电常数测试仪
- 激光导热仪
- 三维形貌仪
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。
以上是关于耐 CAF 基材检测的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。
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