CNAS资质
CNAS资质
cma资质
CMA资质
iso认证
ISO体系
高新技术企业
高新技术企业
首页 检测项目 新闻动态 搜索一下
中析检测

空白检测

原创版权
咨询量:  
更新时间:2025-06-08  /
咨询工程师

信息概要

第三方检测机构提供的空白检测服务,确保产品质量符合行业标准及法规要求。空白检测是指对未添加样品的空白基质进行分析,以评估检测过程中可能存在的干扰或污染,是质量控制的重要环节。通过空白检测,可以有效排除系统误差,提高检测数据的准确性和可靠性,为后续样品分析提供可靠依据。

检测项目

  • 外观检查
  • pH值测定
  • 水分含量
  • 灰分含量
  • 重金属含量
  • 微生物限度
  • 残留溶剂
  • 挥发性有机物
  • 总有机碳
  • 紫外吸收
  • 红外光谱分析
  • 粒度分布
  • 密度测定
  • 粘度测定
  • 电导率测定
  • 氧化还原电位
  • 荧光强度
  • 折射率
  • 熔点测定
  • 沸点测定

检测范围

  • 食品空白基质
  • 药品空白基质
  • 化妆品空白基质
  • 环境水样空白
  • 土壤空白基质
  • 空气空白样品
  • 塑料空白基质
  • 纺织品空白基质
  • 金属空白基质
  • 陶瓷空白基质
  • 玻璃空白基质
  • 纸张空白基质
  • 涂料空白基质
  • 油墨空白基质
  • 胶粘剂空白基质
  • 橡胶空白基质
  • 木材空白基质
  • 皮革空白基质
  • 电子材料空白基质
  • 建筑材料空白基质

检测方法

  • 液相色谱法(HPLC):用于分离和测定样品中的有机化合物。
  • 气相色谱法(GC):用于分析挥发性有机物。
  • 原子吸收光谱法(AAS):用于测定金属元素含量。
  • 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):用于痕量元素分析。
  • 紫外-可见分光光度法(UV-Vis):用于测定样品的吸光度。
  • 红外光谱法(IR):用于分析样品的分子结构。
  • 质谱法(MS):用于鉴定化合物的分子量及结构。
  • 核磁共振波谱法(NMR):用于分析样品的分子结构。
  • X射线衍射法(XRD):用于分析样品的晶体结构。
  • 热重分析法(TGA):用于测定样品的热稳定性。
  • 差示扫描量热法(DSC):用于测定样品的热性能。
  • 粒度分析法:用于测定样品的粒径分布。
  • 电化学分析法:用于测定样品的电化学性质。
  • 微生物培养法:用于测定样品的微生物污染。
  • 酶联免疫吸附试验(ELISA):用于检测特定蛋白质或抗体。

检测仪器

  • 液相色谱仪
  • 气相色谱仪
  • 原子吸收光谱仪
  • 电感耦合等离子体质谱仪
  • 紫外-可见分光光度计
  • 红外光谱仪
  • 质谱仪
  • 核磁共振波谱仪
  • X射线衍射仪
  • 热重分析仪
  • 差示扫描量热仪
  • 粒度分析仪
  • 电化学分析仪
  • 微生物培养箱
  • 酶标仪

了解中析

我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力 我们的实力

实验室仪器

合作客户

我们的实力

推荐相关阅读
中析研究所第三方检测机构,国家高新技术企业,主要为政府部门、事业单位、企业公司以及大学高校提供检测分析鉴定服务!
研究所仪器 | 研究所动态 | 检测项目 | 化工资讯

【地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121】,【山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼】,【邮箱地址:010@yjsyi.com】

https://www.bjhgyjs.com Copyright © 2024 All Rights Reserved-检测机构-搜索一下-网站地图 - 免责声明

版权所有:北京中科光析科学技术研究所-【投诉举报】010-82491398  备案信息:京ICP备15067471号-34京公网安备 11010802035695号