信息概要
原位质谱成像检测是一种先进的分子成像技术，能够在样品原始位置直接获取化学成分的空间分布信息，广泛应用于生物医学、材料科学、环境监测等领域。该技术通过高分辨质谱与成像技术的结合，实现对复杂样品的快速、精准分析，为科研和工业检测提供重要数据支持。
检测的重要性在于其能够揭示样品的分子组成与空间分布关系，帮助研究人员理解样品的化学特性、代谢途径或污染物分布，从而为疾病诊断、药物开发、环境评估等提供科学依据。此外，原位质谱成像检测具有高灵敏度、高特异性和无需标记等优势，是现代分析检测中不可或缺的工具。
检测项目
- 分子组成分析
- 空间分布成像
- 代谢物鉴定
- 脂质组学分析
- 蛋白质组学分析
- 药物分布检测
- 污染物定位
- 元素分布分析
- 生物标志物筛选
- 组织切片成像
- 细胞代谢研究
- 表面化学分析
- 聚合物成分检测
- 纳米材料分布
- 植物代谢物成像
- 微生物群落分析
- 药物代谢动力学研究
- 环境污染物追踪
- 食品添加剂分布
- 临床病理学研究
检测范围
需要检测，但不确定项目与标准？工程师为您一对一制定检测方案
- 生物组织切片
- 细胞培养样本
- 血液与体液样本
- 植物组织
- 微生物样本
- 药物制剂
- 环境污染物样本
- 食品与农产品
- 纳米材料
- 聚合物材料
- 金属表面涂层
- 化石与地质样本
- 临床病理样本
- 化妆品成分
- 工业化学品
- 药物代谢产物
- 环境颗粒物
- 生物标志物样本
- 毒理学研究样本
- 法医物证样本
检测方法
检测报告可以为您解决：产品性能提升改进科研项目立项与结题依据内部科研新品把控生产工艺改进与失效分析
- 基质辅助激光解吸电离质谱成像（MALDI-MSI）：通过激光解吸电离技术实现分子成像
- 二次离子质谱成像（SIMS）：利用高能离子束轰击样品表面进行成分分析
- 解吸电喷雾电离质谱成像（DESI-MSI）：通过电喷雾电离技术实现非破坏性检测
- 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱成像（LA-ICP-MS）：用于元素分布分析
- 大气压基质辅助激光解吸电离成像（AP-MALDI）：适用于活体或易挥发样品
- 纳米级二次离子质谱成像（NanoSIMS）：提供超高空间分辨率成像
- 飞行时间二次离子质谱成像（TOF-SIMS）：结合飞行时间质谱的高灵敏度分析
- 红外激光解吸电离成像（IR-LDI-MSI）：利用红外激光实现温和电离
- 电喷雾辅助激光解吸电离成像（ELDI-MSI）：结合电喷雾与激光解吸技术
- 激光诱导击穿光谱成像（LIBS-MSI）：用于元素分布快速检测
- 等离子体辅助激光解吸电离成像（PALDI-MSI）：通过等离子体增强电离效率
- 共振增强多光子电离成像（REMPI-MSI）：选择性检测特定分子
- 激光捕获显微切割质谱成像（LCM-MSI）：结合显微切割与质谱分析
- 表面增强激光解吸电离成像（SELDI-MSI）：通过表面增强提高灵敏度
- 电喷雾激光解吸电离成像（ELDI-MSI）：结合电喷雾与激光解吸技术
检测仪器
- 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪（MALDI-TOF MS）
- 二次离子质谱仪（SIMS）
- 解吸电喷雾电离质谱仪（DESI-MS）
- 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱仪（LA-ICP-MS）
- 大气压基质辅助激光解吸电离质谱仪（AP-MALDI-MS）
- 纳米级二次离子质谱仪（NanoSIMS）
- 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
- 红外激光解吸电离质谱仪（IR-LDI-MS）
- 电喷雾辅助激光解吸电离质谱仪（ELDI-MS）
- 激光诱导击穿光谱仪（LIBS）
- 等离子体辅助激光解吸电离质谱仪（PALDI-MS）
- 共振增强多光子电离质谱仪（REMPI-MS）
- 激光捕获显微切割系统（LCM）
- 表面增强激光解吸电离质谱仪（SELDI-MS）
- 电喷雾激光解吸电离质谱仪（ELDI-MS）
机构信息
机构名称：北京中科光析科学技术研究所
简称：中析研究所
单位性质：集体所有制（股份合作）科研检测单位
隶属单位：北京前沿科学技术研究院
机构定位：以科研检测为主的科学技术研究机构；第三方分析测试技术服务单位
资质认可：旗下实验室获得CMA检验检测机构资质认定与CNAS实验室认可
机构荣誉：国家高新技术企业、中关村高新技术企业
检测方针：公正、科学、准确、优质
执业原则：严谨、诚信
经营理念：以客户需求为中心，真正解决顾客难题
服务内容：研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等
服务行业：航空航天、军工科研、高端制造、新能源与节能环保、石油化工、生物医药、电子信息、新材料研发、汽车及轨道交通、建筑建材等
