SiC MOSFET模块气密检测

信息概要

SiC MOSFET模块是一种基于碳化硅材料的功率半导体器件，广泛应用于新能源汽车、光伏发电、工业控制等领域。其气密性检测是确保模块长期稳定运行的关键环节，可防止湿气、灰尘等污染物侵入导致性能退化或失效。第三方检测机构提供的气密性检测服务，通过严格的标准和先进的设备，为客户提供可靠的数据支持，保障产品质量。

检测项目

• 氦气泄漏率检测
• 氮气泄漏率检测
• 内部气压变化测试
• 外部气压变化测试
• 密封材料老化测试
• 高温气密性测试
• 低温气密性测试
• 湿热循环气密性测试
• 振动环境下的气密性测试
• 机械冲击后的气密性测试
• 封装焊缝完整性检测
• 封装材料渗透性测试
• 内部湿度检测
• 外部湿度检测
• 气体成分分析
• 压力衰减测试
• 真空保持能力测试
• 封装材料气密性测试
• 长期稳定性气密性测试
• 快速温变下的气密性测试

检测范围

• 单管SiC MOSFET模块
• 半桥SiC MOSFET模块
• 全桥SiC MOSFET模块
• 三相SiC MOSFET模块
• 高压SiC MOSFET模块
• 低压SiC MOSFET模块
• 大电流SiC MOSFET模块
• 小电流SiC MOSFET模块
• 工业级SiC MOSFET模块
• 车规级SiC MOSFET模块
• 光伏用SiC MOSFET模块
• 储能用SiC MOSFET模块
• 高频SiC MOSFET模块
• 低频SiC MOSFET模块
• 高温SiC MOSFET模块
• 低温SiC MOSFET模块
• 高可靠性SiC MOSFET模块
• 低成本SiC MOSFET模块
• 定制化SiC MOSFET模块
• 标准封装SiC MOSFET模块

检测方法

• 氦质谱检漏法：通过氦气作为示踪气体检测微小泄漏
• 压力衰减法：测量压力随时间的变化判断泄漏
• 真空检漏法：在真空环境下检测气体泄漏
• 气泡法：将模块浸入液体观察气泡形成
• 示踪气体法：使用特定气体检测泄漏路径
• 红外热成像法：通过温度分布检测泄漏点
• 超声波检测法：利用超声波探测泄漏产生的声波
• 质谱分析法：分析内部气体成分判断密封性
• 湿度传感器法：监测内部湿度变化评估气密性
• 气压循环法：通过气压变化测试密封性能
• 温度循环法：在不同温度下测试气密性变化
• 振动测试法：模拟运输或使用环境下的气密性
• 机械冲击法：评估机械应力后的密封性能
• 长期老化测试：评估材料老化对气密性的影响
• 快速温变法：测试温度急剧变化时的气密性

检测仪器

• 氦质谱检漏仪
• 压力衰减测试仪
• 真空检漏仪
• 气泡检测系统
• 示踪气体检测仪
• 红外热像仪
• 超声波检测仪
• 质谱分析仪
• 湿度传感器
• 气压循环测试仪
• 温度循环测试箱
• 振动测试台
• 机械冲击测试仪
• 老化试验箱
• 快速温变试验箱

了解中析

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