SiC MOSFET模块气密检测

信息概要

SiC MOSFET模块是一种基于碳化硅（SiC）材料的高性能功率半导体器件，广泛应用于新能源、电动汽车、工业控制等领域。其气密性检测是确保模块长期稳定运行的关键环节，可防止湿气、灰尘等污染物侵入，避免器件失效或性能下降。第三方检测机构提供的气密性检测服务，通过严格的标准和先进的设备，为客户提供可靠的数据支持，保障产品质量。

检测项目

• 气密性测试
• 漏率检测
• 密封强度测试
• 内部湿度检测
• 压力衰减测试
• 氦质谱检漏
• 真空度测试
• 密封材料分析
• 封装完整性检测
• 热循环气密性测试
• 机械冲击后气密性测试
• 振动后气密性测试
• 高温高湿环境气密性测试
• 低温环境气密性测试
• 气压变化测试
• 气体渗透率测试
• 封装焊接强度测试
• 封装材料气密性评估
• 长期老化气密性测试
• 快速温变气密性测试

检测范围

• 单管SiC MOSFET模块
• 半桥SiC MOSFET模块
• 全桥SiC MOSFET模块
• 多芯片并联SiC MOSFET模块
• 高压SiC MOSFET模块
• 低压SiC MOSFET模块
• 高温SiC MOSFET模块
• 高功率密度SiC MOSFET模块
• 汽车级SiC MOSFET模块
• 工业级SiC MOSFET模块
• 航空级SiC MOSFET模块
• 定制化SiC MOSFET模块
• TO封装SiC MOSFET模块
• DBC封装SiC MOSFET模块
• 陶瓷封装SiC MOSFET模块
• 塑封SiC MOSFET模块
• 金属封装SiC MOSFET模块
• 混合封装SiC MOSFET模块
• 智能功率模块（IPM）
• 集成驱动SiC MOSFET模块

检测方法

• 压力衰减法：通过测量压力变化评估气密性
• 氦质谱检漏法：利用氦气检测微小泄漏
• 气泡法：观察水中气泡判断泄漏点
• 真空法：在真空环境下检测气体渗透
• 示踪气体法：使用特定气体检测泄漏
• 红外热成像法：通过温度分布分析密封性
• 超声波检测法：利用超声波探测泄漏
• 湿度传感器法：监测内部湿度变化
• 气体色谱法：分析内部气体成分
• 光学检测法：通过显微镜观察封装缺陷
• X射线检测法：检查内部结构完整性
• 激光干涉法：测量微小形变评估密封性
• 质谱分析法：准确测定泄漏气体
• 气压循环法：模拟气压变化测试密封性
• 热重分析法：评估材料在高温下的气密性

检测仪器

• 氦质谱检漏仪
• 压力衰减测试仪
• 真空检漏仪
• 湿度测试仪
• 气体色谱仪
• 红外热像仪
• 超声波检测仪
• X射线检测设备
• 激光干涉仪
• 质谱分析仪
• 气压循环测试箱
• 热重分析仪
• 光学显微镜
• 高精度压力传感器
• 环境试验箱

了解中析

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