晶型反向工程破解测试

信息概要

晶型反向工程破解测试是一种通过分析目标物质的晶体结构、成分及物理化学性质，逆向推导其制备工艺和关键参数的检测技术。该技术广泛应用于医药、材料科学、化工等领域，尤其在药物晶型专利保护和仿制药开发中具有重要价值。

检测的重要性在于：通过精准解析晶型特征，可确保产品质量一致性，规避知识产权风险，并为工艺优化提供数据支持。第三方检测机构依托设备和标准化流程，为客户提供、可靠的晶型反向工程服务。

检测项目

• 晶型结构鉴定
• 晶胞参数测定
• 结晶度分析
• 多晶型筛查
• 热稳定性测试
• 差示扫描量热分析
• 热重分析
• 粉末X射线衍射
• 单晶X射线衍射
• 红外光谱分析
• 拉曼光谱分析
• 固态核磁共振
• 粒度分布检测
• 比表面积测定
• 吸湿性测试
• 溶解速率分析
• 光学显微镜观察
• 扫描电镜形貌分析
• 元素成分分析
• 残留溶剂检测

检测范围

• 原料药及中间体
• 化学合成药物
• 生物制剂
• 中药有效成分
• 高分子材料
• 金属有机框架材料
• 纳米晶体材料
• 催化剂
• 农药原药
• 食品添加剂
• 化妆品活性成分
• 染料及颜料
• 电子材料
• 电池正负极材料
• 陶瓷材料
• 矿物晶体
• 半导体材料
• 金属合金
• 聚合物共混物
• 液晶材料

检测方法

• X射线衍射法（XRD）：通过衍射图谱确定晶体结构
• 差示扫描量热法（DSC）：测定相变温度和热力学性质
• 热重分析法（TGA）：分析热分解特性
• 动态蒸汽吸附法（DVS）：检测吸湿性行为
• 傅里叶变换红外光谱（FTIR）：识别分子振动模式
• 拉曼光谱法：获取晶格振动信息
• 固态核磁共振（ssNMR）：分析分子堆积方式
• 扫描电子显微镜（SEM）：观察表面形貌特征
• 透射电子显微镜（TEM）：解析微观晶体结构
• 粒度激光衍射法：测定颗粒分布
• 比表面吸附法（BET）：计算比表面积
• 液相色谱（HPLC）：检测杂质含量
• 气相色谱（GC）：分析残留溶剂
• 偏振光显微镜：观察双折射现象
• 原子力显微镜（AFM）：纳米级表面形貌表征

检测仪器

• X射线衍射仪
• 差示扫描量热仪
• 热重分析仪
• 动态蒸汽吸附仪
• 傅里叶变换红外光谱仪
• 拉曼光谱仪
• 固态核磁共振仪
• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• 激光粒度分析仪
• 比表面及孔隙度分析仪
• 液相色谱仪
• 气相色谱仪
• 偏振光显微镜
• 原子力显微镜

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