PXRD全谱拟合定量测试

信息概要

PXRD全谱拟合定量测试是一种基于X射线衍射技术的材料分析方法，通过全谱拟合手段实现对样品中物相组成及含量的准确测定。该技术广泛应用于材料科学、化工、制药、矿产等领域，为产品质量控制、工艺优化及研发提供关键数据支持。

检测的重要性在于：准确识别材料中的晶相与非晶相成分，定量分析各物相比例，确保材料性能符合行业标准或研发要求。尤其在多相混合材料、药物多晶型筛查、工业催化剂等领域，该测试是判定材料合规性的核心手段。

本服务涵盖样品制备、数据采集、全谱拟合分析及报告生成全流程，支持粉末、薄膜、块体等多种形态样品检测，检测周期短、数据重复性好，符合ISO/IEC 17025体系认证要求。

检测项目

• 物相定性分析
• 晶相定量分析
• 非晶相含量测定
• 晶胞参数计算
• 结晶度测定
• 晶粒尺寸分析
• 微观应变分析
• 择优取向分析
• 固溶体组成分析
• 多晶型比例测定
• 杂质相检测
• 晶体结构精修
• 热膨胀系数测定
• 高温相变分析
• 低温相结构测定
• 应力状态分析
• 层状材料堆叠分析
• 纳米材料结构表征
• 同质多晶型鉴别
• 药物活性成分定量

检测范围

• 金属及合金材料
• 无机非金属材料
• 陶瓷材料
• 水泥及建材
• 催化剂及载体
• 电池正负极材料
• 半导体材料
• 高分子材料
• 药物原料及制剂
• 矿物及地质样品
• 纳米粉体材料
• 磁性材料
• 涂层材料
• 复合材料
• 玻璃材料
• 碳材料
• 金属有机框架材料
• 沸石分子筛
• 压电材料
• 超导材料

检测方法

• Rietveld全谱拟合法：通过数学模型拟合整个衍射谱进行定量分析
• 参考强度比法：利用标准物质建立定量校准曲线
• 无标样定量法：基于晶体结构数据库进行自动匹配
• 全谱分解法：分离重叠衍射峰进行单相分析
• 原位高温XRD：实时监测材料相变过程
• 掠入射XRD：薄膜材料表面结构分析
• 小角XRD：纳米材料长周期结构测定
• 应力分析XRD：测定材料残余应力分布
• 织构分析XRD：晶体取向分布统计
• 变温XRD：研究温度依赖的相行为
• 同步辐射XRD：高分辨率微区分析
• 快速XRD：动态过程实时监测
• 微区XRD：局部区域结构表征
• 对分布函数分析：非晶材料短程有序研究
• 联合精修法：结合XRD与其它光谱数据综合分析

检测仪器

• X射线衍射仪
• 高温附件系统
• 低温附件系统
• 应力分析附件
• 织构测角仪
• 平行光束光学系统
• 二维探测器
• 一维阵列探测器
• 毛细管样品台
• 薄膜样品台
• 原位反应池
• 湿度控制附件
• 微区聚焦系统
• 同步辐射光束线
• 旋转样品台