CNAS资质
CNAS资质
cma资质
CMA资质
iso认证
ISO体系
高新技术企业
高新技术企业
首页 检测项目 新闻动态 搜索一下
中析检测

激光诱导击穿光谱检验

原创版权
咨询量:  
更新时间:2025-06-19  /
咨询工程师

信息概要

激光诱导击穿光谱(LIBS)是一种先进的元素分析技术,通过高能激光脉冲激发样品表面产生等离子体,并分析其发射光谱来确定样品的元素组成。该技术具有快速、无损、多元素同时检测等优势,广泛应用于工业、环保、科研等领域。

检测的重要性在于,LIBS技术能够精准识别材料中的元素成分,确保产品质量符合标准,同时为生产过程控制、废弃物分类、材料回收等提供可靠数据支持。第三方检测机构通过LIBS技术为客户提供、准确的检测服务,助力企业优化生产流程并满足法规要求。

检测项目

  • 元素成分分析
  • 金属含量检测
  • 非金属含量检测
  • 痕量元素检测
  • 主量元素测定
  • 杂质元素分析
  • 材料纯度评估
  • 合金成分鉴定
  • 氧化物含量测定
  • 碳含量检测
  • 硫含量检测
  • 氮含量检测
  • 氧含量检测
  • 氢含量检测
  • 卤素元素分析
  • 重金属检测
  • 稀土元素分析
  • 镀层成分分析
  • 表面污染检测
  • 材料均匀性评估

检测范围

  • 金属及合金材料
  • 矿石与矿物
  • 土壤与沉积物
  • 废水与废渣
  • 大气颗粒物
  • 陶瓷与玻璃
  • 塑料与聚合物
  • 电子元器件
  • 电池材料
  • 涂料与涂层
  • 建筑材料
  • 食品与农产品
  • 药品与保健品
  • 化妆品
  • 纺织品
  • 汽车材料
  • 航空航天材料
  • 核材料
  • 考古文物
  • 艺术品与珠宝

检测方法

  • 激光诱导击穿光谱法(LIBS):通过激光激发样品产生等离子体并分析其光谱
  • X射线荧光光谱法(XRF):利用X射线激发样品并测量其荧光光谱
  • 原子吸收光谱法(AAS):通过原子对特定波长光的吸收进行元素分析
  • 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES):利用高温等离子体激发样品并测量发射光谱
  • 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):结合等离子体电离和质谱技术进行痕量元素分析
  • 火花直读光谱法:通过电火花激发样品并分析其发射光谱
  • 辉光放电光谱法(GD-OES):利用辉光放电激发样品表面进行深度分析
  • 拉曼光谱法:通过拉曼散射效应分析分子结构
  • 红外光谱法(FTIR):利用红外吸收光谱分析有机物结构
  • 扫描电子显微镜-能谱法(SEM-EDS):结合电子显微镜和能谱进行微区元素分析
  • 透射电子显微镜法(TEM):通过电子透射成像分析材料微观结构
  • X射线衍射法(XRD):利用X射线衍射分析晶体结构
  • 热重分析法(TGA):通过加热测量样品质量变化
  • 差示扫描量热法(DSC):测量样品热流变化分析热性能
  • 气相色谱-质谱联用法(GC-MS):结合色谱分离和质谱检测分析挥发性物质

检测仪器

  • 激光诱导击穿光谱仪
  • X射线荧光光谱仪
  • 原子吸收光谱仪
  • 电感耦合等离子体发射光谱仪
  • 电感耦合等离子体质谱仪
  • 火花直读光谱仪
  • 辉光放电光谱仪
  • 拉曼光谱仪
  • 傅里叶变换红外光谱仪
  • 扫描电子显微镜
  • 透射电子显微镜
  • X射线衍射仪
  • 热重分析仪
  • 差示扫描量热仪
  • 气相色谱-质谱联用仪

了解中析

我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力我们的实力

实验室仪器

合作客户

我们的实力

推荐相关阅读
中析研究所第三方检测机构,国家高新技术企业,主要为政府部门、事业单位、企业公司以及大学高校提供检测分析鉴定服务!
研究所仪器 | 研究所动态 | 检测项目 | 化工资讯

【地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121】,【山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼】,【邮箱地址:010@yjsyi.com】

https://www.bjhgyjs.com Copyright © 2024 All Rights Reserved-检测机构-搜索一下-网站地图 - 免责声明

版权所有:北京中科光析科学技术研究所-【投诉举报】010-82491398  备案信息:京ICP备15067471号-34京公网安备 11010802035695号