X射线衍射物相检测

信息概要

X射线衍射物相检测是一种通过分析材料对X射线的衍射图谱来确定其物相组成的技术。该技术广泛应用于材料科学、地质学、化工、制药等领域，能够准确鉴定晶体结构、物相比例以及晶格参数等信息。检测的重要性在于，它为产品质量控制、研发优化以及失效分析提供了科学依据，确保材料性能符合预期要求。

X射线衍射物相检测能够快速、无损地提供材料的物相信息，帮助客户了解样品的晶体结构、纯度以及可能存在的杂质。通过该检测，可以优化生产工艺、验证材料性能，并为科研和工业应用提供可靠的数据支持。

检测项目

• 物相定性分析
• 物相定量分析
• 晶体结构解析
• 晶格常数测定
• 结晶度测定
• 残余应力分析
• 择优取向分析
• 晶粒尺寸计算
• 微观应变分析
• 多晶型鉴定
• 非晶态含量测定
• 相变温度分析
• 高温/低温物相分析
• 薄膜厚度测定
• 薄膜应力分析
• 层状结构分析
• 纳米材料物相鉴定
• 复合材料物相分布
• 矿物组成分析
• 药物晶型鉴定

检测范围

• 金属材料
• 陶瓷材料
• 高分子材料
• 复合材料
• 纳米材料
• 矿物样品
• 催化剂
• 电池材料
• 半导体材料
• 磁性材料
• 药物原料
• 涂料
• 水泥
• 玻璃
• 土壤
• 沉积物
• 化石
• 考古样品
• 工业粉末
• 合金材料

检测方法

• 粉末X射线衍射法（PXRD）：用于粉末样品的物相分析
• 单晶X射线衍射法（SCXRD）：用于单晶样品的结构解析
• 掠入射X射线衍射法（GIXRD）：用于薄膜样品的分析
• 高温X射线衍射法（HTXRD）：研究材料在高温下的相变行为
• 低温X射线衍射法（LTXRD）：研究材料在低温下的结构变化
• 原位X射线衍射法：实时监测材料在特定环境下的结构演变
• 小角X射线散射法（SAXS）：用于纳米材料的结构分析
• 广角X射线散射法（WAXS）：研究材料的结晶结构
• 同步辐射X射线衍射法：利用同步辐射光源提高检测灵敏度
• 能量色散X射线衍射法（EDXRD）：用于特定元素的物相分析
• 时间分辨X射线衍射法：研究材料结构的动态变化
• 全谱拟合定量分析法：用于物相的准确定量
• Rietveld精修法：用于晶体结构的准确解析
• 残余应力测定法：分析材料内部的应力分布
• 织构分析法：研究材料的择优取向

检测仪器

• X射线衍射仪
• 单晶衍射仪
• 薄膜X射线衍射仪
• 高温X射线衍射仪
• 低温X射线衍射仪
• 原位X射线衍射仪
• 小角X射线散射仪
• 广角X射线散射仪
• 同步辐射X射线衍射仪
• 能量色散X射线衍射仪
• 时间分辨X射线衍射仪
• 多功能X射线衍射仪
• 微区X射线衍射仪
• 便携式X射线衍射仪
• 高分辨率X射线衍射仪

了解中析

实验室仪器

合作客户