AFM-IR微区晶型实验

信息概要

AFM-IR微区晶型实验是一种结合原子力显微镜（AFM）和红外光谱（IR）的高分辨率表征技术，用于分析材料在微米或纳米尺度下的晶型结构、化学组成及分子相互作用。该技术广泛应用于药物研发、高分子材料、半导体等领域，能够提供传统方法难以获取的微区信息。

检测的重要性在于：通过AFM-IR技术可以精准识别材料的晶型差异、相分离、结晶度等关键参数，为产品质量控制、工艺优化及失效分析提供科学依据。尤其在药物多晶型研究中，晶型差异可能直接影响药物的溶解性、稳定性和生物利用度，因此检测至关重要。

本服务可提供快速、准确的微区晶型分析，支持定制化检测方案，满足科研与工业需求。

检测项目

• 微区晶型分布
• 结晶度分析
• 分子取向
• 化学组分定性
• 化学组分定量
• 相分离表征
• 聚合物共混相容性
• 药物多晶型鉴定
• 表面官能团分布
• 纳米颗粒成分分析
• 薄膜均匀性评估
• 缺陷定位与分析
• 材料老化研究
• 界面相互作用
• 氢键网络分析
• 热稳定性评估
• 应力诱导晶型转变
• 水分吸附影响
• 添加剂分散性
• 污染物溯源

检测范围

• 药物原料及制剂
• 高分子聚合物
• 共晶材料
• 半导体薄膜
• 纳米复合材料
• 生物医用材料
• 涂料与涂层
• 纤维材料
• 液晶材料
• 电池电极材料
• 催化剂
• 陶瓷材料
• 金属有机框架（MOFs）
• 碳材料
• 凝胶材料
• 食品添加剂
• 化妆品成分
• 农药制剂
• 染料与颜料
• 环境颗粒物

检测方法

• AFM-IR联用技术：结合形貌与化学信息同步分析
• 接触模式AFM：高分辨率形貌成像
• 轻敲模式AFM：减少样品损伤
• 红外光谱扫描：特定波数范围化学分析
• 局部红外映射：微区化学成分分布
• 变温AFM-IR：研究温度依赖性晶型转变
• 力曲线分析：机械性能与晶型关联
• 偏振红外检测：分子取向研究
• 纳米红外光谱：突破衍射极限的高分辨化学成像
• 时间分辨AFM-IR：动态过程监测
• 峰拟合分析：重叠红外峰解卷积
• 二维相关光谱：揭示分子相互作用
• 化学计量学分析：多组分定量建模
• 三维重构：空间分布可视化
• 对比样品校准：提高定量准确性

检测仪器

• 原子力显微镜-红外联用系统（AFM-IR）
• 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）
• 纳米红外光谱仪
• 激光共聚焦显微镜
• 拉曼光谱仪
• 差示扫描量热仪（DSC）
• 热重分析仪（TGA）
• X射线衍射仪（XRD）
• 扫描电子显微镜（SEM）
• 透射电子显微镜（TEM）
• 紫外-可见分光光度计
• 粒度分析仪
• 表面张力仪
• 动态机械分析仪（DMA）
• 流变仪

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