2025-06-10  -  拓扑绝缘体表面态角分辨光电子能谱（ARPES）是一种用于研究材料表面电子结构的重要技术。该技术通过测量光电子的动能和发射角度，能够直接获取材料的能带结构和表面态信息。检测拓扑绝缘体的表面态对于理解其独特的电子性质、开发新型量子器件以及推动材料科学的发展具有重要意义。

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2025-05-15  -  光学光电子产品是现代科技领域的重要组成部分，广泛应用于显示技术、通信设备、传感器、照明系统等领域。第三方检测机构通过专业测试实验，确保产品性能符合国际标准及行业规范。检测的重要性在于验证产品可靠性、安全性及能效表现，同时为企业优化设计、提升市场竞争力和通过法规认证提供技术支撑。

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2020-01-20  -   标准号：GB/T 29556-2013 采 中文标准名称：表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

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2020-01-16  -   标准号：GB/T 30704-2014 采 中文标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 英文标准名称：Surface chemical analysis―X-r

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/30480.html   -  检测标准

2020-01-16  -   标准号：GB/T 30702-2014 采 中文标准名称：表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/30378.html   -  检测标准

2019-12-24  -   标准号：GB/T 15651.4-2017 采 中文标准名称：半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器 英文标准名称：Semiconducto

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2019-12-21  -   标准号：GB/T 22571-2017 采 中文标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 英文标准名称：Surface chemical analysi

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36401-2018 采 中文标准名称：表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 英文标准名称：Surface chemical analy

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2019-12-11  -   标准号：GB/T 36358-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectronic

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/20161.html   -  检测标准

2019-12-11  -   标准号：GB/T 36359-2018 中文标准名称：半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 英文标准名称：Semiconductor optoelectron

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