电镜测试

信息概要

• 纳米材料是指尺寸在1-100纳米范围内的材料，具有独特的物理化学性质，广泛应用于电子、医药、能源等领域。
• 电镜测试对纳米材料的表征至关重要，能够提供形貌、尺寸分布、元素成分等信息，确保产品性能和质量控制。
• 本检测服务概括了多种电镜测试方法，包括高分辨率成像和成分分析，适用于各类纳米材料，提供准确可靠的检测结果。

检测项目

• 放大倍数
• 分辨率
• 加速电压
• 束流
• 工作距离
• 探测器类型
• 图像对比度
• 样品倾斜角
• 元素成分
• 晶体结构
• 粒径分布
• 形貌分析
• 表面粗糙度
• 孔隙率
• 厚度测量
• 元素映射
• 线扫描
• 点分析
• 能谱分析
• 衍射模式
• 相衬成像
• 暗场成像
• 明场成像
• 高角环形暗场像
• 电子能量损失谱
• 阴极发光
• 背散射电子成像
• 二次电子成像
• 样品导电性
• 真空度

检测范围

• 金属纳米颗粒
• 氧化物纳米颗粒
• 碳纳米管
• 石墨烯
• 量子点
• 纳米线
• 纳米片
• 纳米纤维
• 纳米复合材料
• 纳米涂层
• 生物纳米材料
• 药物纳米载体
• 纳米催化剂
• 纳米传感器
• 纳米电子器件
• 纳米光学材料
• 纳米磁性材料
• 纳米能源材料
• 纳米环境材料
• 纳米医药材料
• 纳米食品材料
• 纳米纺织材料
• 纳米建筑材料
• 纳米汽车材料
• 纳米航空航天材料
• 陶瓷纳米粉末
• 聚合物纳米颗粒
• 半导体纳米结构
• 贵金属纳米颗粒
• 磁性纳米颗粒

检测方法

• 扫描电子显微镜（SEM）：用于样品表面形貌的高分辨率成像。
• 透射电子显微镜（TEM）：用于观察样品内部结构，可达原子分辨率。
• 扫描透射电子显微镜（STEM）：结合扫描和透射模式，用于高分辨率成分分析。
• 能量色散X射线光谱（EDS）：用于元素成分的定性和定量分析。
• 电子背散射衍射（EBSD）：用于晶体结构和取向的分析。
• 电子能量损失谱（EELS）：用于化学成分和电子态研究。
• 阴极发光（CL）：用于材料的光学性质分析。
• 背散射电子成像（BSE）：基于原子序数对比的成像技术。
• 二次电子成像（SEI）：用于表面形貌成像。
• 聚焦离子束（FIB）：用于样品制备、加工和三维重构。
• 环境扫描电镜（ESEM）：允许观察非导电或湿样品。
• 低温电子显微镜（Cryo-EM）：用于生物样品的结构分析。
• 三维电子显微镜（3D EM）：通过断层扫描获得三维结构。
• 原子分辨率电镜：实现原子级成像和分析。
• 原位电镜：在外部刺激下实时观察样品变化。
• 电子衍射：用于晶体结构确定。
• 会聚束电子衍射（CBED）：用于局部晶体学分析。
• 电子全息：用于相位对比成像。
• 波长色散X射线光谱（WDS）：高精度元素分析。
• 场发射扫描电镜（FE-SEM）：高分辨率SEM，使用场发射电子源。

检测仪器

• 扫描电子显微镜
• 透射电子显微镜
• 场发射扫描电镜
• 环境扫描电镜
• 聚焦离子束系统
• 能谱仪
• 电子背散射衍射系统
• 阴极发光探测器
• 低温样品台
• 原位样品台
• 原子分辨率透射电镜
• 三维重构软件
• 图像分析系统
• 样品制备设备
• 真空泵系统