微控制器漏电流测试

信息概要

• 微控制器漏电流测试是评估微控制器在低功耗模式下的电流泄漏情况的关键检测项目，有助于确保电子设备的能效和可靠性。
• 该检测对于识别设计缺陷、延长电池寿命以及符合国际标准如IEC和JEDEC至关重要，尤其适用于物联网和便携式设备。
• 第三方检测机构提供、客观的评估服务，帮助制造商优化产品性能并降低风险。

检测项目

• 静态漏电流测试
• 动态漏电流测试
• 输入引脚漏电流测试
• 输出引脚漏电流测试
• 电源引脚漏电流测试
• 休眠模式漏电流测试
• 待机模式漏电流测试
• 运行模式漏电流测试
• 不同电压下的漏电流测试
• 温度变化下的漏电流测试
• GPIO漏电流测试
• 模拟引脚漏电流测试
• 数字引脚漏电流测试
• 时钟引脚漏电流测试
• 复位引脚漏电流测试
• 中断引脚漏电流测试
• UART接口漏电流测试
• I2C接口漏电流测试
• SPI接口漏电流测试
• ADC漏电流测试
• DAC漏电流测试
• 看门狗定时器漏电流测试
• 低功耗定时器漏电流测试
• 闪存漏电流测试
• RAM漏电流测试
• 核心电压域漏电流测试
• I/O电压域漏电流测试
• 不同频率下的漏电流测试
• 负载条件下的漏电流测试
• 环境湿度下的漏电流测试
• 静电放电影响漏电流测试
• 电磁兼容性漏电流测试
• 老化测试中的漏电流变化
• 多样品统计漏电流分析
• 边界扫描漏电流测试

检测范围

• 8位微控制器
• 16位微控制器
• 32位微控制器
• ARM Cortex-M0微控制器
• ARM Cortex-M3微控制器
• ARM Cortex-M4微控制器
• ARM Cortex-M7微控制器
• ARM Cortex-R系列微控制器
• PIC16系列微控制器
• PIC18系列微控制器
• PIC24系列微控制器
• dsPIC系列微控制器
• AVR系列微控制器
• MSP430系列微控制器
• STM32F系列微控制器
• STM32L系列微控制器
• ESP32系列微控制器
• nRF52系列微控制器
• RP2040微控制器
• LPC系列微控制器
• Kinetis系列微控制器
• EFM32系列微控制器
• RX系列微控制器
• RA系列微控制器
• XMC系列微控制器
• PSoC系列微控制器
• MAX32系列微控制器
• ADuC系列微控制器
• HT系列微控制器
• SN系列微控制器
• C2000系列微控制器
• EFR32系列微控制器
• WL系列微控制器
• GD32系列微控制器

检测方法

• 直流参数测试法：通过直流电源和电流表测量静态电流泄漏。
• 动态电流测试法：在微控制器运行模式下监测电流变化以评估动态漏电。
• 睡眠电流测试法：专门测试微控制器在睡眠模式下的低功耗漏电流。
• 待机电流测试法：评估待机模式下的电流消耗和泄漏情况。
• 扫描电压测试法：在不同供电电压下测量漏电流，分析电压依赖性。
• 温度循环测试法：通过温度变化测试漏电流的稳定性和温度系数。
• 湿度测试法：在高湿度环境中评估漏电流受湿度影响的程度。
• 加速寿命测试法：使用高温高湿条件加速测试漏电流的长期变化。
• 边界扫描测试法：利用JTAG接口测试I/O引脚的漏电流特性。
• 功能测试法：在正常操作过程中实时监测电流以识别泄漏点。
• 静态功耗测试法：测量微控制器无活动时的功耗和漏电流。
• 动态功耗测试法：评估有程序运行时的动态漏电流行为。
• 漏电流比较法：将测试样品与标准微控制器进行对比分析。
• 统计分析测试法：使用多个样品进行统计以确定漏电流分布。
• 自动测试设备法：通过ATE系统自动化执行漏电流测试序列。
• 在线测试法：在印刷电路板上直接测试微控制器的漏电流。
• 离线测试法：将微控制器单独取出进行准确漏电流测量。
• 模拟仿真测试法：使用SPICE仿真工具预测漏电流行为。
• 数字仿真测试法：通过逻辑仿真评估数字部分的漏电影响。
• 混合信号测试法：结合模拟和数字测试方法全面评估漏电流。
• 瞬态电流测试法：捕捉电流瞬态变化以分析动态泄漏。
• 功耗分析测试法：使用功率分析仪进行详细功耗和漏电评估。

检测仪器

• 数字万用表
• 示波器
• 电源供应器
• 电流探头
• 温度箱
• 湿度箱
• 自动测试设备
• 参数分析仪
• 逻辑分析仪
• 信号发生器
• 频谱分析仪
• 功率分析仪
• 数据采集系统
• 微欧姆计
• 静电放电模拟器
• 绝缘电阻测试仪
• 高精度电流表