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半导体集成电路CMOS电路检测

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检测样品:半导体集成电路CMOS电路

检测项目

输入正向闽值电压VIT+,输入负向阑值电压VIT-,带后电压△VT,输出高电平电压VOH,输出低电平电压VOL,输入高电平电流IIH,输入低电平电流IL,输出高电平电流IOH,输出低电平电流IOL,输出高阻态时高电平电流IOZH,输出高阻态时低电平电流IOZL

检测周期:7-15个工作日,试验可加急

检测标准

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.4

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.5

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.6

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.7

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.8

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.9

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.10

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.11

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.12

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.14

检测流程

1、寄样

2、初检样品

3、报价

4、双方确定,签订保密协议,开始实验。

5、结束实验

6、邮寄检测报告

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。

以上是关于半导体集成电路CMOS电路检测的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。

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