原子力显微镜(AFM)测试仪器-纳米测试仪器
承诺：我们的检测流程严格遵循国际标准和规范，确保结果的准确性和可靠性。我们的实验室设施精密完备，配备了最新的仪器设备和领先的分析测试方法。无论是样品采集、样品处理还是数据分析，我们都严格把控每个环节，以确保客户获得真实可信的检测结果。
原子力显微镜(AFM)
主要用途
原子力显微镜是用于研究材料表面形貌和性质的高分辨仪器。广泛应用于纳米技术、材料科学、生物学、半导体等领域，能够实现原子级分辨率的表面成像和力学性质测量。
参数指标
分辨率：0.1nm(横向)、0.01nm(纵向)；扫描范围：100×100×15μm；扫描速度：≥50行/秒；最大样品尺寸：直径150mm；成像模式：接触、轻敲、非接触等。
主要样品类型
适用于各类固体样品，包括：纳米材料、薄膜、聚合物、生物样品、半导体器件、金属表面、陶瓷材料、细胞、蛋白质等。
主要实验项目
表面形貌分析、粗糙度测量、厚度测定、力学性质测量、磁力显微(MFM)、电力显微(EFM)、扫描电容显微(SCM)、纳米压痕、纳米刻蚀、摩擦力测量、分子间作用力测量等。
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试。
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