2019-12-13  -   标准号：GB/T 35010.8-2018 采 中文标准名称：半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式 英文标准名称：Semiconductor die produc

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21022.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35007-2018 中文标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circu

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21020.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35006-2018 中文标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Mea

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21019.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35010.5-2018 采 中文标准名称：半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求 英文标准名称：Semiconductor die products—Part

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21018.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35003-2018 中文标准名称：非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 英文标准名称：Test methods for endurance and data

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21016.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35002-2018 中文标准名称：微波电路 频率源测试方法 英文标准名称：Microwave circuits—Measuring methods for freque

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21015.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35001-2018 中文标准名称：微波电路 噪声源测试方法 英文标准名称：Microwave circuits—Measuring methoels for noise

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21014.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35005-2018 中文标准名称：集成电路倒装焊试验方法 英文标准名称：Test methods for flip chip integrated circuits

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21013.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 35011-2018 中文标准名称：微波电路 压控振荡器测试方法 英文标准名称：Microwave circuits—Measuring methods for vo

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21011.html   -  检测标准

2019-12-13  -   标准号：GB/T 14028-2018 中文标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法 英文标准名称：Semiconductor integrated circuits—Measu

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/21009.html   -  检测标准