2021-11-04  -  检测项目：单晶晶向测定，检测标准参考：GB/T 34210-2017蓝宝石单晶晶向测定方法。中析研究所国家高新技术企业，检测资质齐全，实验室仪器先进，真正的一站式检测服务。

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2021-06-24  -  单晶硅检测项目：外观检测，切片检测，电阻率检测，氧含量检测，纯度检测，同心圆检测等。

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2020-01-18  -   标准号：GB/T 30118-2013 采 中文标准名称：声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 英文标准名称：Single crystal wafers for surf

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2020-01-14  -   标准号：GB/T 30858-2014 中文标准名称：蓝宝石单晶衬底抛光片 英文标准名称：Polished mono-crystalline sapphire substrate produc

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2020-01-14  -   标准号：GB/T 30866-2014 中文标准名称：碳化硅单晶片直径测试方法 英文标准名称：Test method for measuring diameter of monocryst

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/29931.html   -  检测标准

2020-01-14  -   标准号：GB/T 30867-2014 中文标准名称：碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 英文标准名称：Test method for measuring thickness

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/29930.html   -  检测标准

2020-01-14  -   标准号：GB/T 30868-2014 中文标准名称：碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法 英文标准名称：Test method for measuring micropip

https://www.bjhgyjs.com/jiancebiaozhun/29929.html   -  检测标准

2020-01-13  -   标准号：GB/T 10067.410-2014 中文标准名称：电热装置基本技术条件 第410部分：单晶炉 英文标准名称：Basic specifications for elect

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2020-01-08  -   标准号：GB/T 31092-2014 中文标准名称：蓝宝石单晶晶锭 英文标准名称：Monocrystalline sapphire ingot 标准状态：现

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2020-01-08  -   标准号：GB/T 30656-2014 中文标准名称：碳化硅单晶抛光片 英文标准名称：Polished monocrystalline silicon carbide wafers

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