X射线衍射（晶体结构）

信息概要

X射线衍射（晶体结构）是一种广泛应用于材料科学、化学、地质学等领域的分析技术，通过测量X射线与晶体材料的相互作用，确定其晶体结构、相组成、晶格参数等信息。该技术对于材料研发、质量控制、失效分析等具有重要意义，能够为工业生产、科研实验提供准确的数据支持。

检测的重要性：X射线衍射分析可以帮助识别材料的晶体结构、物相组成、结晶度等关键参数，确保材料性能符合要求。在制药、冶金、半导体等行业中，晶体结构的准确性直接影响产品的性能和稳定性，因此检测是保障产品质量的关键环节。

检测信息概括：本机构提供的X射线衍射检测服务，涵盖多种材料类型，检测项目全面，采用先进的仪器和方法，确保数据的准确性和可靠性。

检测项目

• 晶体结构解析
• 物相定性分析
• 物相定量分析
• 晶格常数测定
• 结晶度测定
• 晶粒尺寸分析
• 残余应力分析
• 织构分析
• 薄膜厚度测定
• 晶体取向分析
• 多晶衍射分析
• 单晶衍射分析
• 非晶态结构分析
• 晶体缺陷分析
• 晶体生长方向测定
• 晶体对称性分析
• 晶体热膨胀系数测定
• 晶体密度测定
• 晶体电子密度分布分析
• 晶体结构精修

检测范围

• 金属材料
• 陶瓷材料
• 高分子材料
• 半导体材料
• 纳米材料
• 复合材料
• 矿物样品
• 药物晶体
• 催化剂材料
• 电池材料
• 磁性材料
• 光学晶体
• 超导材料
• 水泥材料
• 玻璃材料
• 涂层材料
• 薄膜材料
• 合金材料
• 生物晶体
• 地质样品

检测方法

• 粉末X射线衍射法（PXRD）：用于分析多晶样品的晶体结构
• 单晶X射线衍射法（SCXRD）：用于准确测定单晶样品的晶体结构
• 高分辨X射线衍射法（HRXRD）：用于分析薄膜和异质结构的晶体质量
• 小角X射线散射法（SAXS）：用于分析纳米尺度的结构信息
• 掠入射X射线衍射法（GIXRD）：用于分析薄膜和表面结构
• 原位X射线衍射法：用于研究材料在加热、冷却等条件下的结构变化
• 同步辐射X射线衍射法：利用同步辐射光源提高分辨率和灵敏度
• 能量色散X射线衍射法（EDXRD）：用于快速分析多相混合物
• 时间分辨X射线衍射法：用于研究动态过程的结构变化
• 全散射X射线衍射法：用于分析非晶态和液体结构
• 微区X射线衍射法（μ-XRD）：用于分析微小区域的晶体结构
• 极图分析：用于测定材料的织构信息
• 残余应力测定法：用于分析材料内部的应力分布
• 晶体结构精修法：用于优化晶体结构模型
• 定量相分析法：用于确定混合物中各相的含量

检测仪器

• X射线衍射仪
• 高分辨X射线衍射仪
• 单晶X射线衍射仪
• 粉末X射线衍射仪
• 小角X射线散射仪
• 同步辐射X射线衍射装置
• 微区X射线衍射仪
• 原位X射线衍射装置
• 薄膜X射线衍射仪
• 能量色散X射线衍射仪
• 时间分辨X射线衍射装置
• 极图测定仪
• 残余应力测定仪
• 全散射X射线衍射仪
• 高温X射线衍射仪