纳豆粉原子力显微镜测试

信息概要

纳豆粉是一种由纳豆经过发酵、干燥、粉碎等工艺制成的功能性食品原料，富含纳豆激酶、维生素K2等多种活性成分。原子力显微镜（AFM）测试是一种高分辨率的表面形貌和力学性能分析方法，能够提供纳米级的三维形貌、表面粗糙度、弹性模量等信息。通过AFM测试，可以全面评估纳豆粉的微观结构、颗粒分布、表面特性等，为产品质量控制、工艺优化及功能研究提供科学依据。检测的重要性在于确保纳豆粉的物理特性符合标准，验证其生产工艺的稳定性，并为后续应用（如医药、保健品等）提供可靠的数据支持。

检测项目

• 表面形貌分析
• 颗粒尺寸分布
• 表面粗糙度
• 弹性模量
• 粘附力
• 硬度
• 杨氏模量
• 表面电势
• 摩擦力
• 颗粒聚集状态
• 纳米级缺陷检测
• 表面疏水性
• 薄膜厚度
• 结晶度
• 分子间作用力
• 表面电荷分布
• 颗粒形状分析
• 表面能
• 纳米级孔隙率
• 动态力学性能

检测范围

• 普通纳豆粉
• 高活性纳豆粉
• 低嘌呤纳豆粉
• 速溶纳豆粉
• 有机纳豆粉
• 纳豆激酶提取物
• 发酵纳豆粉
• 冻干纳豆粉
• 纳米级纳豆粉
• 功能性纳豆粉
• 药用级纳豆粉
• 食品添加剂用纳豆粉
• 保健食品用纳豆粉
• 高纯度纳豆粉
• 复合纳豆粉
• 调味纳豆粉
• 无糖纳豆粉
• 高纤维纳豆粉
• 低脂纳豆粉
• 特殊工艺纳豆粉

检测方法

• 接触模式AFM：通过探针直接接触样品表面，获取高分辨率形貌信息。
• 轻敲模式AFM：减少对样品的损伤，适合柔软或易变形的纳豆粉颗粒。
• 相位成像：分析表面粘弹性差异。
• 力曲线分析：测量弹性模量和粘附力。
• 表面电势成像：检测表面电荷分布。
• 摩擦力显微镜：分析表面摩擦特性。
• 动态力学分析：研究纳豆粉的动态力学性能。
• 纳米压痕测试：测量硬度和杨氏模量。
• 表面能计算：通过接触角数据推导表面能。
• 颗粒分布统计：分析颗粒尺寸和形状分布。
• 三维形貌重建：生成样品的三维表面模型。
• 表面疏水性测试：通过AFM探针功能化评估疏水性。
• 薄膜厚度测量：利用AFM扫描边缘台阶。
• 结晶度分析：通过形貌和力学性能推断结晶状态。
• 分子间作用力测量：通过力谱分析分子间相互作用。

检测仪器

• 原子力显微镜（AFM）
• 纳米压痕仪
• 激光粒度分析仪
• 扫描电子显微镜（SEM）
• 透射电子显微镜（TEM）
• X射线衍射仪（XRD）
• 红外光谱仪（FTIR）
• 拉曼光谱仪
• 表面电势分析仪
• 动态力学分析仪（DMA）
• 接触角测量仪
• 表面粗糙度测试仪
• 超声波细胞粉碎机
• 离心机
• 冷冻干燥机