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富集技术同位素

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信息概要

富集技术同位素是指通过物理或化学方法将目标同位素从天然同位素混合物中分离并富集的技术产品。这类产品在核能、医疗、科研及工业领域具有重要应用价值。检测富集技术同位素的纯度、丰度及稳定性是确保其安全性和有效性的关键环节。第三方检测机构通过分析手段,为客户提供准确、可靠的检测数据,助力产品质量控制与合规性认证。

检测项目

  • 同位素丰度测定
  • 放射性活度检测
  • 杂质元素含量分析
  • 化学纯度检测
  • 同位素比值测定
  • 半衰期验证
  • 衰变产物分析
  • 气体杂质检测
  • 水分含量测定
  • 颗粒度分布测试
  • 表面污染检测
  • 热稳定性测试
  • 化学稳定性评估
  • 溶解性测试
  • 密度测定
  • 比活度计算
  • 中子吸收截面测定
  • γ能谱分析
  • α/β污染检测
  • 同位素分馏效应评估

检测范围

  • 铀同位素富集产品
  • 钚同位素富集产品
  • 锂同位素富集产品
  • 硼同位素富集产品
  • 氘富集产品
  • 氚富集产品
  • 碳-14富集产品
  • 氧-18富集产品
  • 氮-15富集产品
  • 硫-34富集产品
  • 钙-48富集产品
  • 铁-57富集产品
  • 锌-68富集产品
  • 硒-76富集产品
  • 锶-88富集产品
  • 钼-98富集产品
  • 镉-116富集产品
  • 锡-124富集产品
  • 钐-152富集产品
  • 钆-160富集产品

检测方法

  • 质谱法(MS):通过离子质荷比测定同位素丰度
  • γ能谱法:分析放射性同位素的γ射线特征峰
  • α能谱法:检测α粒子能量分布
  • 液体闪烁计数法:测量低能β放射性
  • 气相色谱法(GC):分离并检测挥发性同位素化合物
  • 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS):高灵敏度元素分析
  • 中子活化分析(NAA):测定痕量杂质含量
  • X射线荧光光谱(XRF):非破坏性元素成分分析
  • 同位素稀释法:准确测定同位素比值
  • 热电离质谱(TIMS):高精度同位素比值测量
  • 激光烧蚀光谱(LA-ICP-MS):微区同位素分析
  • 离子色谱法(IC):检测阴离子杂质
  • 库仑法:测定放射性核素活度
  • 比色法:定量分析特定同位素化合物
  • 气相色谱-质谱联用(GC-MS):有机物同位素分析

检测仪器

  • 高分辨质谱仪
  • γ能谱仪
  • α能谱仪
  • 液体闪烁计数器
  • 气相色谱仪
  • 电感耦合等离子体质谱仪
  • 中子活化分析装置
  • X射线荧光光谱仪
  • 热电离质谱仪
  • 激光烧蚀系统
  • 离子色谱仪
  • 库仑计数器
  • 紫外可见分光光度计
  • 气相色谱-质谱联用仪
  • 放射性活度测量仪

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试。

以上是关于富集技术同位素的相关介绍,如有其他疑问可以咨询在线工程师为您服务。

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