同位素外部校正

信息概要

同位素外部校正是一种高精度的检测技术，广泛应用于环境监测、食品安全、地质勘探等领域。该技术通过校正样品中的同位素比例，确保检测结果的准确性和可靠性。第三方检测机构提供的同位素外部校正服务，能够帮助客户识别样品中的同位素组成，为科学研究、工业生产和质量控制提供重要依据。

检测同位素外部校正的重要性在于，它可以消除仪器偏差和环境干扰，提高数据的可比性和可重复性。无论是环境样品、生物样本还是工业产品，同位素外部校正都能为数据的科学性和性提供保障。

检测项目

• 碳同位素比值
• 氮同位素比值
• 氧同位素比值
• 硫同位素比值
• 氢同位素比值
• 铅同位素比值
• 锶同位素比值
• 铀同位素比值
• 钍同位素比值
• 镭同位素比值
• 钾同位素比值
• 钙同位素比值
• 镁同位素比值
• 铁同位素比值
• 铜同位素比值
• 锌同位素比值
• 镉同位素比值
• 汞同位素比值
• 硼同位素比值
• 硅同位素比值

检测范围

• 环境水样
• 土壤样品
• 大气颗粒物
• 植物组织
• 动物组织
• 食品及农产品
• 矿物和岩石
• 化石燃料
• 工业废水
• 医疗废物
• 海洋沉积物
• 地下水
• 地表水
• 生物标志物
• 化妆品
• 药品
• 金属材料
• 陶瓷材料
• 塑料制品
• 纺织品

检测方法

• 同位素比值质谱法（IRMS） - 通过质谱仪测定同位素比值
• 热电离质谱法（TIMS） - 用于高精度同位素分析
• 电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS） - 适用于多元素同位素检测
• 气体同位素质谱法（GS-MS） - 用于气体样品的同位素分析
• 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法（LA-ICP-MS） - 用于固体样品直接分析
• 加速器质谱法（AMS） - 用于极低丰度同位素检测
• 稳定同位素比率分析法（SIRA） - 用于稳定同位素比值测定
• 二次离子质谱法（SIMS） - 用于微区同位素分析
• 气相色谱-同位素比值质谱联用法（GC-IRMS） - 用于有机化合物的同位素分析
• 液相色谱-同位素比值质谱联用法（LC-IRMS） - 用于液体样品的同位素分析
• X射线荧光光谱法（XRF） - 用于元素组成分析
• 中子活化分析法（NAA） - 用于痕量元素同位素检测
• 原子吸收光谱法（AAS） - 用于特定元素同位素分析
• 发射光谱法（OES） - 用于金属同位素分析
• 核磁共振法（NMR） - 用于同位素结构分析

检测仪器

• 同位素比值质谱仪
• 热电离质谱仪
• 电感耦合等离子体质谱仪
• 气体同位素质谱仪
• 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪
• 加速器质谱仪
• 二次离子质谱仪
• 气相色谱-同位素比值质谱联用仪
• 液相色谱-同位素比值质谱联用仪
• X射线荧光光谱仪
• 中子活化分析仪
• 原子吸收光谱仪
• 发射光谱仪
• 核磁共振仪
• 紫外可见分光光度计