激光剥蚀同位素

信息概要

激光剥蚀同位素分析是一种高精度的检测技术，广泛应用于地质、环境、材料科学等领域。该技术通过激光剥蚀样品表面，结合质谱仪对同位素组成进行准确测定，为科研和工业应用提供关键数据支持。

检测激光剥蚀同位素的重要性在于其能够提供样品的同位素比值信息，帮助研究人员了解样品的来源、形成过程以及环境变化等。此外，该技术具有高灵敏度、高分辨率和微损检测的特点，适用于珍贵或微量样品的分析。

激光剥蚀同位素检测服务涵盖多种样品类型，包括但不限于矿物、岩石、生物样品和环境样品等。我们的第三方检测机构拥有先进的设备和的技术团队，确保检测结果的准确性和可靠性。

检测项目

• 同位素比值测定
• 元素含量分析
• 同位素分馏研究
• 样品纯度检测
• 同位素年龄测定
• 微量元素分布
• 同位素示踪分析
• 样品均匀性评估
• 同位素标准物质验证
• 样品污染检测
• 同位素空间分布
• 样品同位素组成
• 同位素动力学研究
• 样品同位素标记
• 同位素地球化学研究
• 样品同位素特征
• 同位素环境示踪
• 样品同位素变异
• 同位素生物地球化学研究
• 样品同位素指纹

检测范围

• 矿物样品
• 岩石样品
• 土壤样品
• 水体样品
• 生物组织
• 化石样品
• 沉积物
• 大气颗粒物
• 金属材料
• 陶瓷材料
• 玻璃材料
• 环境样品
• 考古样品
• 陨石样品
• 珠宝玉石
• 工业材料
• 化学试剂
• 药品样品
• 食品样品
• 化妆品样品

检测方法

• 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法（LA-ICP-MS）
• 激光剥蚀多接收电感耦合等离子体质谱法（LA-MC-ICP-MS）
• 激光剥蚀飞行时间质谱法（LA-TOF-MS）
• 激光剥蚀二次离子质谱法（LA-SIMS）
• 激光剥蚀热电离质谱法（LA-TIMS）
• 激光剥蚀气体质谱法（LA-GMS）
• 激光剥蚀同位素稀释法（LA-ID）
• 激光剥蚀同位素比值质谱法（LA-IRMS）
• 激光剥蚀激光诱导击穿光谱法（LA-LIBS）
• 激光剥蚀X射线荧光光谱法（LA-XRF）
• 激光剥蚀中子活化分析法（LA-NAA）
• 激光剥蚀电子探针微区分析法（LA-EPMA）
• 激光剥蚀拉曼光谱法（LA-Raman）
• 激光剥蚀红外光谱法（LA-FTIR）
• 激光剥蚀紫外可见光谱法（LA-UV-Vis）

检测仪器

• 激光剥蚀系统
• 电感耦合等离子体质谱仪
• 多接收电感耦合等离子体质谱仪
• 飞行时间质谱仪
• 二次离子质谱仪
• 热电离质谱仪
• 气体质谱仪
• 同位素比值质谱仪
• 激光诱导击穿光谱仪
• X射线荧光光谱仪
• 中子活化分析仪
• 电子探针微区分析仪
• 拉曼光谱仪
• 红外光谱仪
• 紫外可见光谱仪