顶空分析同位素

信息概要

顶空分析同位素是一种先进的检测技术，广泛应用于环境监测、食品安全、医药研发等领域。该技术通过分析样品中挥发性物质的同位素组成，提供高精度的检测结果，帮助客户了解样品的来源、成分及其变化过程。

顶空分析同位素检测的重要性在于其能够准确识别和量化样品中的同位素比例，为科学研究、工业生产和质量控制提供可靠的数据支持。通过该项检测，可以有效评估样品的真实性、纯度和稳定性，确保产品符合相关标准和法规要求。

检测项目

• 氢同位素比值（δD）
• 碳同位素比值（δ13C）
• 氮同位素比值（δ15N）
• 氧同位素比值（δ18O）
• 硫同位素比值（δ34S）
• 氦同位素比值（3He/4He）
• 氖同位素比值（20Ne/22Ne）
• 氩同位素比值（40Ar/36Ar）
• 氪同位素比值（86Kr/84Kr）
• 氙同位素比值（132Xe/129Xe）
• 锂同位素比值（7Li/6Li）
• 硼同位素比值（11B/10B）
• 镁同位素比值（26Mg/24Mg）
• 硅同位素比值（30Si/28Si）
• 氯同位素比值（37Cl/35Cl）
• 钾同位素比值（41K/39K）
• 钙同位素比值（44Ca/40Ca）
• 铁同位素比值（56Fe/54Fe）
• 铜同位素比值（65Cu/63Cu）
• 锌同位素比值（68Zn/64Zn）

检测范围

• 环境水样
• 土壤样品
• 大气气体
• 食品和饮料
• 药品和化妆品
• 石油和天然气
• 矿物和岩石
• 生物组织
• 工业废水
• 农业产品
• 海洋样品
• 考古材料
• 金属材料
• 塑料和聚合物
• 纺织品
• 化学品
• 放射性物质
• 电子材料
• 建筑材料
• 废弃物

检测方法

• 气相色谱-同位素比值质谱法（GC-IRMS）：通过气相色谱分离样品，质谱测定同位素比值。
• 液相色谱-同位素比值质谱法（LC-IRMS）：利用液相色谱分离，质谱检测同位素组成。
• 元素分析-同位素比值质谱法（EA-IRMS）：通过元素分析仪和质谱联用测定同位素比值。
• 热解-同位素比值质谱法（Py-IRMS）：通过热解技术分析固体样品的同位素组成。
• 激光烧蚀-同位素比值质谱法（LA-IRMS）：利用激光烧蚀技术直接分析固体样品。
• 静态顶空-同位素比值质谱法（SHS-IRMS）：通过静态顶空技术分析挥发性物质的同位素。
• 动态顶空-同位素比值质谱法（DHS-IRMS）：利用动态顶空技术富集和检测挥发性物质。
• 同位素稀释质谱法（IDMS）：通过添加已知同位素标记物进行定量分析。
• 连续流同位素比值质谱法（CF-IRMS）：结合连续流系统和质谱进行同位素分析。
• 高分辨率同位素比值质谱法（HR-IRMS）：利用高分辨率质谱提高检测精度。
• 多接收器同位素比值质谱法（MC-IRMS）：通过多接收器质谱同时测定多种同位素。
• 稳定同位素标记法（SIL）：使用稳定同位素标记物进行追踪和分析。
• 同位素交换法（IEX）：通过同位素交换反应测定样品中的同位素组成。
• 同位素分馏法（IF）：利用同位素分馏效应进行检测。
• 同位素成像法（II）：通过成像技术可视化同位素分布。

检测仪器

• 气相色谱-同位素比值质谱仪（GC-IRMS）
• 液相色谱-同位素比值质谱仪（LC-IRMS）
• 元素分析-同位素比值质谱仪（EA-IRMS）
• 热解-同位素比值质谱仪（Py-IRMS）
• 激光烧蚀-同位素比值质谱仪（LA-IRMS）
• 静态顶空-同位素比值质谱仪（SHS-IRMS）
• 动态顶空-同位素比值质谱仪（DHS-IRMS）
• 同位素稀释质谱仪（IDMS）
• 连续流同位素比值质谱仪（CF-IRMS）
• 高分辨率同位素比值质谱仪（HR-IRMS）
• 多接收器同位素比值质谱仪（MC-IRMS）
• 稳定同位素标记仪（SIL）
• 同位素交换仪（IEX）
• 同位素分馏仪（IF）
• 同位素成像仪（II）