分立器件检测

检测样品：分立器件

检测项目：指标检测，性能测试，非标试验，电压检测，极性检测等

检测周期：7-15个工作日(参考周期)

检测标准参考

BS 6493-1-3-1986半导体器件.分立器件.信号(包括开关)和调节二极管推荐规范

BS 6493-1-5-1992半导体器件.分立器件.光电子器件的推荐方法

BS EN 60747-5-2-2001半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 修正13433:2002年1月8日; IEC 61747-5-2:1997;重新编号BS IEC 60747-5-2:1997

BS EN 60747-5-3-2001半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 试验方法 IEC 61747-5-3:1997;重新编号BS IEC 60747-5-3:1997

BS EN 60747-16-4-2004半导体分立器件.微波集成电路.开关

BS IEC 60747-2-2000半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 替代BS 6493-1-2: 1984

BS IEC 60747-4-2-2000半导体器件.分立器件.微波二极管和晶体管.集成电路微波放大器.空白详细规范

BS IEC 60747-8-4-2004半导体分立器件.电力开关设备的金属氧化物半导体场效应晶体管

CEI EN 60191-1-2008半导体器件的机械标准化。第1部分:分立器件外形图制备的一般规则。第一版

CEI EN 60747-15-2012半导体器件.分立器件.第15部分:隔离功率半导体器件

DIN EN 60747-5-5-2011半导体器件 分立器件 第5-5部分：光电子器件 光电耦合器

DIN EN 60747-15-2004半导体分立器件 第15部分:隔离的功率半导体器件

DIN EN 60875-1-2002非波长选择光纤分立器件.第1部分:总规范

DIN EN 181103-1998空白详细规范.纤维光学分立器件.型式:通信用无波长选择传输星

DIN EN 181104-1998空白详细规范.纤维光学分立器件.型式:通信用有波长选择传输星

DIN IEC 747-7-1997半导体器件.分立器件和集成电路.第7部分:双极晶体管

DIN IEC 60747-2-2001半导体器件.分立器件和集成电路.第2部分:整流二极管

DIN IEC 60747-3-1992半导体器件.分立器件.第3部分:信号二极管(包括开关二极管和稳压二极管)

DIN IEC 60747-10-1987半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 249-2017半导体分立器件型号命名方法

检测流程

1、寄样。(咨询工程师提交检测需求，然后给我们邮寄样品)

2、初检样品。(收到样品之后，初检样品，制定详细的实验方案)

3、报价。(初检之后，根据实验复杂程度以及客户检测需求进行报价)

4、双方确定，签订保密协议，开始实验。(严格保护客户隐私)

5、结束实验。(7-10个工作日完成实验)

6、邮寄检测报告，后期服务。

检测优势

1、初检样品小样，初检期间不收取任何费用。

2、中析研究所国家高新技术企业。

3、中析研究所所出具的食品检测报告认可，支持扫码查询真伪。

4、中析研究所多家实验室分支，支持上门取样，也支持寄样检测。

5、检测周期全，检测费用低，实验方案齐全。