传感器芯片静电敏感度检测

信息概要

• 传感器芯片静电敏感度检测是针对各类传感器芯片在静电环境下的耐受能力进行评估的检测项目，旨在确保芯片在制造、运输和使用过程中不受静电放电损害。
• 检测的重要性在于预防静电导致的器件失效，提高产品可靠性和良率，减少售后风险，同时符合国际标准如JEDEC和IEC要求，保障产品质量和市场准入。
• 本检测服务概括了从样品接收、测试执行到报告出具的全流程，提供全面的静电敏感度评估和认证支持。

检测项目

• 人体模型静电放电灵敏度测试
• 机器模型静电放电灵敏度测试
• 充电器件模型静电放电灵敏度测试
• 传输线脉冲测试
• 闩锁效应测试
• 热插拔测试
• 漏电流测试
• 绝缘电阻测试
• 击穿电压测试
• 静电放电失效分析
• ESD保护器件性能测试
• 敏感度分级测试
• 失效阈值电压测试
• 失效阈值电流测试
• 功能性能测试
• 参数稳定性测试
• 可靠性测试
• 环境应力测试
• 温度循环测试
• 湿度测试
• 振动测试
• 机械冲击测试
• 电气过应力测试
• 静电放电波形测试
• 上升时间测试
• 脉冲宽度测试
• 能量等级测试
• 失效模式分析
• 统计数据分析
• 认证测试

检测范围

• 温度传感器芯片
• 压力传感器芯片
• 湿度传感器芯片
• 光学传感器芯片
• 图像传感器芯片
• 加速度传感器芯片
• 陀螺仪传感器芯片
• 磁力计传感器芯片
• 接近传感器芯片
• 环境光传感器芯片
• 紫外线传感器芯片
• 红外传感器芯片
• 气体传感器芯片
• 烟雾传感器芯片
• 流量传感器芯片
• 液位传感器芯片
• 位置传感器芯片
• 速度传感器芯片
• 振动传感器芯片
• 声音传感器芯片
• 触摸传感器芯片
• 指纹传感器芯片
• 生物传感器芯片
• 化学传感器芯片
• 辐射传感器芯片
• 力传感器芯片
• 扭矩传感器芯片
• 位移传感器芯片
• 角度传感器芯片
• 惯性测量单元芯片

检测方法

• 人体模型测试方法：模拟人体静电放电事件，评估器件对HBM事件的敏感度。
• 机器模型测试方法：模拟机器放电过程，测试芯片在工业环境中的耐用性。
• 充电器件模型测试方法：模拟器件自身充电后放电，评估CDM失效风险。
• 传输线脉冲测试方法：使用TLP系统进行高精度脉冲测试，分析电压-电流特性。
• 非常快速传输线脉冲测试方法：针对快速瞬变事件，测试器件的响应速度。
• 静电放电枪测试方法：直接应用ESD脉冲到器件引脚，进行直接放电测试。
• 间接放电测试方法：通过耦合板进行非接触放电，评估间接ESD影响。
• 接触放电测试方法：直接接触器件引脚进行放电，测试接触敏感度。
• 空气放电测试方法：在空气中间隙放电，模拟实际使用中的静电事件。
• 失效分析方法：分析ESD测试后器件的物理或电气失效模式。
• 敏感度扫描方法：逐步增加放电电压，确定器件的失效阈值。
• 统计方法：使用大量样本进行统计分析，评估产品批次的可靠性。
• 环境测试方法：在不同温湿度条件下进行测试，评估环境因素的影响。
• 寿命测试方法：进行加速寿命测试，预测器件长期使用下的性能。
• 仿真分析方法：利用软件工具仿真ESD事件，提前预测敏感度。
• 标准符合性测试方法：依据JEDEC、IEC等国际标准执行测试流程。
• 定制测试方法：根据客户特定需求，设计个性化测试方案。
• 比较测试方法：对比不同器件或保护方案的ESD性能。
• 实时监控方法：测试过程中实时监测电气参数变化。
• 自动化测试方法：采用自动化设备进行、重复性测试。

检测仪器

• ESD模拟器
• 高压脉冲发生器
• 示波器
• 电流探头
• 电压探头
• 静电放电测试仪
• 传输线脉冲测试系统
• 热盘台
• 环境箱
• 数据采集系统
• 失效分析显微镜
• 参数分析仪
• 源测量单元
• 静电计
• 保护器件测试仪