X射线衍射分析测试

信息概要

• X射线衍射分析（XRD）是一种基于X射线与晶体材料相互作用产生衍射图案的分析技术，用于确定材料的晶体结构、相组成和微观参数。
• 检测的重要性：XRD在材料科学、制药、地质和工业质量控制中至关重要，可非破坏性地鉴定材料特性，确保产品性能、合规性和安全性。
• 检测信息概括：本机构提供的XRD检测服务，涵盖定性与定量分析，支持多种材料类型，帮助客户优化生产工艺和解决问题。

检测项目

• 晶体结构鉴定
• 相定量分析
• 晶粒大小测定
• 晶格常数计算
• 残余应力分析
• 微观应变评估
• 结晶度测量
• 取向（织构）分析
• 原子位置确定
• 键长键角计算
• 热膨胀系数测定
• 相变温度分析
• 薄膜厚度测量
• 表面粗糙度评估
• 缺陷密度分析
• 多型体识别
• 同质多晶型分析
• 非晶含量测定
• 结晶尺寸分布分析
• 晶体对称性确定
• 空间群鉴定
• 分子结构解析
• 氢键分析
• 电子密度测绘
• 原子位移参数计算
• 温度因子分析
• 各向异性评估
• 纹理系数计算
• 择优取向分析
• 相纯度验证

检测范围

• 金属及合金
• 矿物
• 岩石
• 陶瓷
• 玻璃
• 聚合物
• 复合材料
• 药物
• 化学品
• 催化剂
• 纳米材料
• 薄膜
• 涂层
• 半导体
• 超导体
• 磁性材料
• 电池材料
• 水泥
• 骨料
• 土壤
• 沉积物
• 化石
• 考古文物
• 颜料
• 染料
• 食品添加剂
• 化妆品
• 生物材料
• 环境颗粒
• 建筑材料

检测方法

• 粉末X射线衍射：用于多晶样品的相识别和定量分析。
• 单晶X射线衍射：用于确定单晶的原子级结构。
• 高分辨率X射线衍射：准确测量晶格参数和缺陷。
• 掠入射X射线衍射：分析薄膜和表面结构。
• 小角X射线散射：研究纳米尺度结构。
• X射线反射率：测量薄膜厚度和密度。
• 能量色散X射线衍射：使用多色X射线进行快速分析。
• 角度色散X射线衍射：标准衍射方法，适用于多种样品。
• 时间分辨X射线衍射：实时监测动态过程。
• 高温X射线衍射：研究材料在高温下的行为。
• 低温X射线衍射：分析低温相变和结构。
• 原位X射线衍射：在特定环境（如气体、液体）中实时分析。
• 微区X射线衍射：对小区域进行局部结构分析。
• 全场X射线衍射：用于应变和取向测绘。
• 三维X射线衍射：重构三维晶体结构。
• 同步辐射X射线衍射：利用高亮度光源提高分辨率。
• 实验室X射线衍射：使用常规X射线源进行日常分析。
• 便携式X射线衍射：适用于现场快速筛查。
• 定量X射线衍射：通过Rietveld精修进行准确量化。
• 定性X射线衍射：基于数据库匹配进行相识别。

检测仪器

• X射线衍射仪
• 粉末衍射仪
• 单晶衍射仪
• 高分辨率衍射仪
• 掠入射衍射仪
• 小角散射仪
• 微区衍射系统
• 高温衍射附件
• 低温衍射附件
• 原位衍射池
• 二维探测器系统
• 线性探测器
• 点探测器
• 旋转阳极X射线发生器
• 同步辐射光束线