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显微分析检测

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更新时间:2024-12-05  /
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检测项目

  • 粒度分析
  • 形态观察
  • 组织结构分析
  • 成分分布分析
  • 微结构表征
  • 表面形貌分析
  • 孔隙率分析
  • 结晶度分析
  • 颗粒分布分析
  • 缺陷分析
  • 晶体缺陷检测
  • 微裂纹分析
  • 微硬度测试
  • 厚度测量
  • 粗糙度检测
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  • 元素分布分析
  • 相变检测
  • 纳米结构分析
  • 聚合物结构观察
  • 表面涂层分析
  • 微细结构成像
  • 晶粒大小分析
  • 内应力分析
  • 表面污染物分析

检测方法

  • 表面形貌观察
  • 颗粒尺寸分析
  • 颗粒分布分析
  • 微观结构分析
  • 晶体结构分析
  • 元素分布分析
  • 孔隙度分析
  • 纤维直径测量
  • 断口分析
  • 组织结构观察
  • 金相分析
  • 金属腐蚀分析
  • 颗粒形貌观测
  • 涂层厚度分析
  • 微裂纹观察
  • 污染物分析
  • 薄膜厚度测定
  • 元素成分分析
  • 微小缺陷分析
  • 组织组织分类
  • 金属表面粗糙度分析
  • 纳米粒子形貌分析
  • 组织成分分布分析
  • 组织孔隙率分析
  • 合金成分分析

检测仪器

  • 扫描电子显微镜(SEM)
  • 透射电子显微镜(TEM)
  • 光学显微镜
  • 原子力显微镜(AFM)
  • 激光共聚焦显微镜
  • 电子探针X射线微区分析仪(EPMA)
  • X射线衍射仪(XRD)
  • 紫外-可见分光光度计(UV-Vis)
  • 傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)
  • 质谱仪(MS)
  • 能谱仪(EDS)
  • 拉曼光谱仪
  • 差示扫描量热仪(DSC)
  • 热重分析仪(TGA)
  • X射线荧光光谱仪(XRF)
  • 自动化图像分析仪
  • 激光粒度分析仪
  • 微观硬度计
  • 显微聚焦离子束仪(FIB)
  • 光电子能谱仪(XPS)
  • 离子探针显微镜
  • 扫描探针显微镜(SPM)
  • 表面粗糙度仪
  • 纳米压痕仪

检测标准

  • ASTM C1322-2005b(2010)先进陶瓷断裂源断口显微分析和鉴定规程
  • ASTM D2797/D2797M-2011a反射光显微分析用煤样品的制备规程
  • ASTM D3997/D3997M-1997(2009)用反射光法的显微分析用煤样品的制备规程
  • ASTM D4616-1995(2008)通过反射光进行沥青显微分析以及测定沥青中间相的试验方法
  • DIN EN 1071-4-2006高技术陶瓷 陶瓷涂层试验方法 第4部分:化学成分电子探头显微分析测定
  • GB/T 4930-2021微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则
  • GB/T 15247-2008微束分析 电子探针显微分析 测定钢中碳含量的校正曲线法
  • GB/T 20725-2006波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
  • GB/T 20726-2015微束分析电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
  • GB/T 21636-2021微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语

中析研究所优势

1、中析研究所隶属于北京前沿科学技术研究院,客观公正的第三方检测机构

2、国家高新技术企业,IOS资质,CMA检测资质。

3、支持多语言编写MSDS报告,多语言检测报告等。

4、拥有动物实验室、机械实验室、理化实验室等,提供各种标准实验、非标实验、定制实验工装以及实验方案。

5、院士带领的高质量检测团队,对于实验过程和实验数据更加严谨准确。

6、实验室仪器先进,百余台大型实验设备,服务质量高。

显微分析检测

检测报告用途

1、销售使用,用于平台或者线下销售。

2、科研项目使用,研发新品,测试产品性能(大学高校,企业研发,论文文献使用)等

3、投标竞标使用。

4、工业问题诊断,查询产品问题所在。

5、公安部门,法院,工商局等司法部门使用。

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